随着SOC(System On a Chip,片上系统)技术的迅速发展,越来越多的ESRAM(Embedded SRAM,嵌入式静态随机存储器)内核被集成到芯片中。......

BIST(Built-In Self-Test,内建自测试)作为一种可以全速测试的DFT(Design For Testability,可测性设计)解决方案被广泛的应用于SOC......

随着深亚微米级工艺技术的发展,芯片中嵌入式SRAM越来越多,对嵌入式SRAM的测试已经成为一个重要的研究课题。但由于存储器嵌入在芯......