工艺诱生缺陷相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

工艺诱生缺陷相关论文

集成电路芯片的工艺诱生缺陷

调研了三条100～150 mm集成电路生产线上IC芯片的工艺诱生缺陷.研究表明,这些IC生产线上存在三种影响IC成品率的主要诱生缺陷,离子注......

期刊

集成电路工艺芯片工艺诱生缺陷氧化诱生层错弗兰克不全位错

硅整流管击穿机理的研究

本文研究了R形转折特性的转折电压U_T和10mA时的击穿电压U_(10)与环境温度T_a的关系、击穿区的V—I特性、表面空间电荷区光电流与......

期刊

击穿机理击穿电压雪崩击穿齐纳击穿硅整流管空间电荷区场发射效应光电流工艺诱生缺陷反偏压雪崩倍增

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