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应力感应漏电相关论文
MOSFET不同厚度薄栅老化中 SILC的机制(英文)
通过对栅电流和栅电压漂移的测量 ,证明了均匀 FN应力老化后栅氧化层中陷阱呈非均匀分布 .不同厚度的栅氧化层产生 SIL C的机制不......
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MOSFET不同厚度薄栅老化中SILC的机制
通过对栅电流和栅电压漂移的测量,证明了均匀FN应力老化后栅氧化层中陷阱呈非均匀分布.不同厚度的栅氧化层产生SILC的机制不尽相同,薄......
期刊
应力感应漏电
栅氧化层
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