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论述了层次型IP芯核不同测试模式之间的约束关系，给出了层次型IP芯核的测试壳结构，提出了一种复用片上网络测试内嵌IP芯核的启发式测......
微系统芯片（System-on-Chip,SoC）发展到今天,集成密度指数增长和芯片面积的急剧膨胀使得全局连线的延时上升,可靠性下降,成为集成电......
测试规划是SoC芯片测试中需要解决的一个重要问题。一种复用片上网络测试内嵌IP芯核的测试规划方法被用于限制测试模式下SoC芯片功......
微系统芯片测试中一个主要问题是对内嵌IP芯核的测试存取。对于基于片上网络的微系统芯片,可复用片上网络测试内嵌IP芯核,提出了支......
片上网络是对微系统芯片的传统片上互连结构的统一和发展，一种新的集成电路设计技术只有在它的测试技术发展完善后才能被广泛使用。......
提出了一种安全可控的可测性设计DFT（Design For Test）。DFT既能够完成对SoC的测试，又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。......
针对航天综合电子系统小型化对国产微系统芯片低功耗的设计要求,提出了一种基于局部动态自重构技术的片内动态时钟管理解决方案.分......
