测试访问门和边界扫描结构－ＩＥＥＥ１１４９．１标准，定义了置入ＩＣ内部的标准测试逻辑结构，以支持ＩＣ内部的逻辑测试；ＩＣ间相互连接的测试；ＩＣ正常运行时的取样测试。文......