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随着微电子和半导体技术的飞速发展,电路的集成度和复杂度越来越高,使其测试面临着越来越多的困难。为解决这个问题,一些新的测试......
随着集成电路设计和制造水平的不断提高,其测试面临着越来越多的困难,可测性(Design For Testability,DFT)设计成为解决测试问题的......
硬件实验是计算机或其他专业硬件课程的必备教学环节，是培养学生实际动手能力、工程实践能力以及开发创新能力不可缺少的手段。随着......
本文利用Altera公司的FPGA和EDA工具MAX+plusⅡ和实现了基本的边界扫描结构电路,利用此设计可以满足数字电路系统可测性设计和在系......
介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构和故障测试的4-wire串行总线，以及运用边界扫描故障诊断的原理。实验中分析了IC故障类型、一般故障......
测试访问门和边界扫描结构－ＩＥＥＥ１１４９．１标准，定义了置入ＩＣ内部的标准测试逻辑结构，以支持ＩＣ内部的逻辑测试；ＩＣ间相互连接的测试；ＩＣ正常运行时的取样测试。文......
介绍了支持JTAG标准的数字集成电路（IC）芯片结构、故障测试模式和运用边界扫描故障测试的原理。实验中分析了数字IC互连故障类型、一......
介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,以及IEEE 1149.1标......
<正> 1 概况随着VLSI器件的集成度增加,器件测试的困难性也随之增加。这类器件应用在整机系统后,整机系统的调试开发工作量亦随之......
