VLSI电路相关论文
随着半导体工艺尺寸的不断缩小和芯片集成度的提高,VLSI电路的测试面临着许多严峻的挑战,其中,测试功耗已经成为VLSI电路生产测试......
为了简化硬件实现的复杂度和降低存储量,提出一种采用码率预分配的JPEG2000码率控制算法,并给出相应的VLSI结构设计.原始图像经过......
边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法.但是在扫描链路的设计中如何将不同厂家、不同型号、不同工作电压的BS器......
容错技术对于提高VLSI电路的可靠性和成品率十分重要.为实现容错,系统必须提供冗余.本文利用模拟退火、禁忌搜索等现代优化算法求......
面对VLSI设计规模日益增大的挑战，除了电路并行以外，其它已有的基本并行策略都无法从根本上解决测试生成的复杂性问题，然而，已有的电路......
JTAG定义的边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法, JTAG 规范广泛用于芯片内部数据寄存器的配置,可编程芯片的......
为加快传统的大整数除法的运算速度,提出了一种适合硬件实现的低功耗大整数除法快速算法,在此基础上设计了一个低功耗大整数除法器......
本文概述了近十年来VLSI电路的短路和开路缺陷及其故障建模的研究进展.本文将VLSI电路短路缺陷分为逻辑门内部的短路和逻辑门之间......
随着雷达通信、导航等各种电磁辐射源的功率不断加大和频谱增宽以及系统自身电磁辐射与静电等问题，使得许多类型的控制系统在有限的......
