漂移失效相关论文
１ 引言电路可靠性设计隶属于电子产品可靠性技术设计的主要组成部分，所谓“电路可靠性设计”就是指在规定的环境应力、负载应力、工......
失效三阶段中偶然失效期是研究得最多的,应用也最广泛。为了要证实设备或器件已进入偶然失效期,过去已对早期失效期有了一定的研究......
本文表明,Si-SiO_2界面过渡层中的载流子陷阱对硅体内电子存在慢俘获作用,这将导致npn型双极晶体管电流放大系数h_(FE)随时间的正......
对高温贮存和功率老化寿命试验结果的统计分析表明,npn型双极晶体管的电流增益h_(FE)随时间的漂移量与其初始1/f噪声有关.初始1/f......
可靠性工程以突变失效问题为研究对象，已建立了一整套比较完整的理论体系，而对漂移失效引起的可靠性问题却研究得很少。但许多仪表是......
最坏情况分析方法可以看作是与FMEA并列的可靠性工作项目。FMEA是考虑突发性失效,最坏情况分析法考虑的是漂移性失效。本文着重对......
对高温贮存和功率老化寿命试验结果的统计分析表明,npn型双极晶体管的电流增益h_(FE)随时间的漂移量与其初始1/f噪声有关.初始1/f......
可靠性工程以突变失效问题为研究对象，已建立了一整套比较完整的理论体系，而对漂移失效引起的可靠性问题却研究得很少。但许多仪表是......
