漏极感应势垒下降效应相关硕士博士期刊学术论文

CMOS的发展紧随摩尔定律的步伐不断缩小特征尺寸的同时,不断增加的亚阈值电流和栅介质漏电流成为了阻碍工艺进一步发展的主要因素......