电子通道衬度技术相关论文
介绍了扫描电镜（SEM）电子通道衬度（ECC）技术．该技术可以很好地观察材料中位借结构，用这种技术观察受循环载荷作用的铜单晶中的典型位错结......
近三十年来，单晶体和多晶体循环变形行为的研究已进行得十分深入，现已认识到单晶体与多晶体的疲劳行为存在较大的差别。为了揭示晶界......
用扫描电镜（SEM）的电了通道讨度（ECC）技术研究了[001]取向铜单晶中的疲劳位错结构结果表明，SEMECC技术不仅可以真实地、全面地显示疲劳......
