电学参数器件可靠性相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

电学参数器件可靠性相关论文

超深亚微米PMOSFET的NBTI效应的研究与建模

近年来，随着器件特征尺寸和栅氧层厚度的缩小，特别是进入超深亚微米阶段，PMOSFET的负栅压偏置不稳定（Negative bias temperature insta......

学位

负偏压温度负偏压温度界面陷阱电荷界面陷阱电荷氧化层氧化层固定正电荷固定正电荷超深亚微米超深亚微米电学参数电学参数器件可靠性器件可靠性

看过本文同时还关注