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电容耦合互连(CCI)相关论文
一种改进的穿硅电容三维互连技术
针对硅通孔(through-silicon via,TSV)背面通孔外露工艺复杂度与成本较高、易遗留工艺隐患的问题,提出一种改进的穿硅电容(through......
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三维集成电路(3D IC)
三维互连
硅通孔(TSV)
电容耦合互连(CCI)
硅通孔(TSV)背面通孔外露工艺
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