提出了一种用于超深亚微米集成电路电源网格IR—drop验证的新方法。该方法以遗传算法为基础，与已有的分析方法相比，该方法兼具静态IR......

当前,集成电路产业进入了以纳米工艺为代表的SOC(System On Chip)时代,工艺的特征尺寸越来越小,工艺的进步对设计方法学提出了新的......

本文阐述了集成LDO的复杂SoC芯片电源网格在EPS（Encounter Power System）环境下更精确的分析和实现方法，指出了传统的基于理想电压源......