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用户在使用带有芯片的设备时,希望芯片在尽可能小的情况下,提供尽可能多的功能,这就导致芯片的集成度过高,测试时单位面积上需要的......
该文提出了一种基于折叠关系压缩方案,该方案是利用折叠技术,将SOC芯片中芯核的测试数据整体进行折叠关系的判断,并且能够根据是否......
文章提出了一种基于多扫描链相容压缩的距离标记压缩方法,该方法可以有效压缩芯片测试数据量。此方法利用相容压缩和基于差分的编码......
针对相容压缩方法对确定位分布不平衡的测试数据集的压缩效果不佳的问题,将测试集按多扫描链结构排列后,根据向量之间相同相容关系......
针对SOC测试需要大量测试数据的问题,提出了一种基于减少确定位的动态LFSR重新播种的改进方法。该方法利用LFSR数据压缩方法只与测......
随着芯片制造业的迅猛发展,三维芯片的生产制造已经逐步成为了可能。而随着芯片集成度的升高,芯片测试所需要的测试数据量也在不断......
针对长度过长的测试向量之间相容压缩的压缩效果不佳的问题,为了提高测试向量间的相容性,提出了最大近似相容的分组测试向量相容压......