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硅粉末相关论文
腔室长时间使用造成的工艺漂移对微晶硅薄膜性质的影响
考查了等离子体增强化学气相沉积(PECVD)高压制备微晶硅(μc-Si:H)薄膜过程中,系统长时间使用造成的微晶硅薄膜特性的漂移情况。实验中,......
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微晶硅薄膜
等离子体增强化学气相沉积
工艺漂移
硅粉末
mierocrystalline silicon thin film
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