工艺漂移相关论文
目前硬件木马的检测方法主要有逻辑测试和旁道参数分析法,然而在木马面积较小并且存在较大的工艺漂移的情况下,这两种方法的检测覆......
本文提出了一种基于动态电流一静态电流（Iddt-Iddq）的检测方法，在电路设计阶段插入扫描链进行分区设计相结合的硬件木马检测技术，选用C......
考查了等离子体增强化学气相沉积（PECVD）高压制备微晶硅（μc-Si：H）薄膜过程中,系统长时间使用造成的微晶硅薄膜特性的漂移情况。实验中,......
为了克服集成电路制造过程中工艺变化引起滤波器中心频率的漂移，设计了一个可编程校准的OTA—C带通滤波器电路．在Top—Down的设计过......
针对片内CMOS振荡器频率稳定性不高的问题,提出了一种对温度和工艺的补偿方案。基准电压在正温度电阻上产生一路负温度系数的电流,......
介绍了一款带有高阶温度补偿和数字修调功能的高精度片上RC振荡器。由于采用了2阶温度补偿方案,该时钟振荡器在较宽的温度范围内实......
