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研究了阶梯变掺杂漂移区高压SOI RESURF(Reduce SURface Field)结构的器件几何形状和物理参数对器件耐压的影响;发现并解释了该结构纵......
本文系统地研究了基于微波功率放大器应用的GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的耐压机理和相关的可靠性。重点分析了引起GaN HEMT击穿......