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研究了不同钯(Pd)含量银合金线的电阻率、铝挤出、可靠性及横截面的情况,并分析了Pd抑制银离子迁移的原理。结果表明,银合金线中加......

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银合金线钯铝挤出可靠性银迁移 silver alloy wirePdAl splashreliabilitysilver migration

铜线键合技术的发展与挑战

铜线键合技术近年来发展迅速,超细间距引线键合是目前铜线键合的主要发展趋势。介绍了铜线键合的防氧化措施以及键合参数的优化,并......

期刊

铜线键合 Pd-Cu线综述铜线弧铝挤出

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