氢气引入对宽光谱Mg和Ga共掺杂ZnO-TCO薄膜的特性影响

来源 :第13届中国光伏大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:an123
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为适应宽光谱高效率硅基薄膜太阳电池应用需求,本文采用直流磁控溅射技术在553 K温度下生长太阳电池用氢化Mg和Ga共掺杂Zn0(HMGZO)透明导电氧化物(TCO)薄膜.通过微观结构、表面形貌、电学及光学性能的测试和分析,详细地研究了氢气流量对MGZO薄膜结晶特性及光电性能的影响.实验结果表明:生长获得的HMGZO薄膜均为六角纤锌矿结构的多晶薄膜,择优取向为(002)方向.随着氢气引入,ZnO薄膜电阻率电阻率从177 Ω·cm急剧减小至7.2×10-3Ω·cm,进一步增加氢气流量造成了电阻率的轻微下降.所有生长获得的HMGZO薄膜平均光学透过率在波长λ~320-1100 nm范围内可达87%以上.由于Mg的作用及B-M效应的影响造成了带隙展宽,最高光学带隙Eg可达~3.7 eV.
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采用卷对卷(R0ll to roll)工艺制备100 cm2单结柔性非晶硅锗(a-SiGe)薄膜电池,主要研究了电池采用卷对卷工艺制备时锗烷的分解特性,讨论了薄膜材料中硅锗的元素比例随气体流量比的变化趋势,并与普通PECVD工艺进行对比研究;同时,通过拉曼及SEM测试表征研究了电池的开路电压等随硅锗流量比的变化趋势,批量生产出AM 0光谱下效率在5%左右的大面积单结非晶硅锗薄膜电池;最后,就目前卷