本文研究了用平面近场扫描方法测量超低副瓣天线的误差分析与补偿技术。文中首先将平面近场测量所有误差源所产生的误差等效为近区场幅相数据的测量误差，同时将被测天线近区扫描平面上各晶格点的近场幅相分布等效为阵列天线，分析了用平面近场扫描技术测量超低副瓣天线时，副瓣测量总误差与待测天线相关参数的关系；给出了有限扫描面截断所带来的测量误差、扫描面的位置误差所产生的测量误差、测量仪器误差引入的测量误差、探头（Probe）与被测天线（Antenna UnderTest，简写为AUT）间的多次反射所产生的测量误差以及测试环境所导致的测量误差对天线远场方向图所引入的误差上界；其次，用计算机仿真的方法模拟了不同误差源大小对超低副瓣天线方向图副瓣影响程度的数量级；最后，提出了减小这些误差源引入测量误差的有效方法，并对减小多次反射所产生的测量误差以及测试环境所导致的测量误差的“自校准”方法进行了实验验证。全文共分为6章进行论述，各章所讨论的主要内容如下： 第1章 绪论。本章简要介绍了天线近场测量的基本原理；系统地回顾了天线近场测量技术的发展历史和现状；概述了用平面近场技术测量超低副瓣天线的目前现状及选题的意义；给出了本文所做的研究工作和论文的框图。 第2章 基础知识。本章罗列了文中所用到的数学公式，内容涉及到高等数学、工程数学、概率统计、误差理论、电磁场理论、天线平面近场测量理论的相关数学理论。 第3章 超低副瓣天线平面近场测量主要误差源的误差上界分析。本章分8小节分别分析了用平面近场扫描技术测量超低副瓣天线时，副瓣测量总误差与待测天线相关参数的数学关系；给出了有限扫描面截断所带来的测量误差、扫描画的位置误差所产生的测量误差、测量仪器误差引入的测量误差、探头与被侧天线间的多次反射所产生的测量误差以及测试环境所导致的测量误差对天线远场方向图所引入误差上界的解析数学表达式或估值式；同时对误差上界的数学解析式或估值式进行了必要的讨论和说明。 第4章 平面近场主要误差源对超低副瓣天线方向图影响的仿真。本章先给出了仿真平面近场误差对超低副瓣天线方向图影响的相关数学模型；然后，以计算机仿真的方法分别模拟了待测天线近场幅相测量总误差、有限扫描面截断的误差、扫描面的位置误差、测量仪器误差、多次反射误差以及测试环境误差对超低副瓣天线方向图副瓣测量影响程度的数量级。 第5章超低副瓣天线平面近场测量误差补偿方法及仿真。在第4章己建立的仿真数学模型上分别对待测天线近场幅相测量总误差、有限扫描面截断的误差、扫描面的位置误差、测量仪器随机误差补偿方法进行了仿真研究，给出了误差补偿方法的基本思想、仿真条件以及仿真结果。 第6章减小环境误差及多次反射误差的方法。文中提出的“自校准”方法可使多次反射误差和测试环境误差对超低副瓣天线方向图副瓣的测量误差降低到最小限度，并用实验方法加以验证。实验结果说明该方法具有很强的实用性。