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[期刊论文] 作者：胡广勇,左良,
来源：金属功能材料 年份：1998
用快凝的方法以不同的冷凝速度制备了Ｆｅ－６．５％Ｓｉ薄带。研究了快凝速度对制备态薄带晶粒取向的影响，研究结果表明，凝速较慢时样品为（００１）面积构，随冷速的增高，织构减弱。......
[期刊论文] 作者：胡广勇,Esling,C,
来源：东北大学学报：自然科学版 年份：1999
在分析ＣＶＤ法渗Ｓｉ制备Ｆｅ－６．５％Ｓｉ合金板的实际工艺要求基础上，择定了母亲才的Ｓｉ含量，扩散温度及气氛浓度，利用计算机模拟了在所确定条件下对一定厚度样品实施单步扩散和两步扩散的最佳处理工艺，模拟......
[期刊论文] 作者：胡广勇,Penel.,R,
来源：金属学报 年份：1997
采用熔体以双辊快凝法制取了Ｆｅ－３％Ｓｉ合金薄带，经冷轧变形后在不同温度进行退火处理。利用Ｘ射线衍射技术分析了快凝及冷轧态样品的织构；借助电子背散射花技术测定了经不同温度退火后样品......
[期刊论文] 作者：胡广勇,左良,
来源：金属学报 年份：1998
采用沉积－扩散法，交同步冷轧和异步冷轧的Ｆｅ－３％Ｓｉ薄板渗成Ｓｉ含量接近６．５％的高硅钢薄板。利用Ｘ射线衍射技术测定了Ｓｉ样品的结构和Ｓｉ含量，分析了不同工艺阶段样品的织构特征。......
[期刊论文] 作者：武保林,胡广勇,
来源：金属学报 年份：1999
分别对不同初始晶粒尺寸的冷轧及冷轧后经回复的纯Ｃｕ进行了激光超快速加热再结晶处理。发现细晶冷轧样品完全再结晶时其织构由立方与冷轧织构组分构成，而粗晶样品为单一的立方织......
[期刊论文] 作者：胡广勇,左良,程力智,梁志德,
来源：金属功能材料 年份：1998
用快凝的方法以不同的冷凝速度制备了Ｆｅ－６．５％Ｓｉ薄带。研究了快凝速度对制备态薄带晶粒取向的影响，研究结果表明，凝速较慢时样品为（００１）面织构，随冷速的增高，织构减弱。Fe-6.5% Si ribbons wer......
[期刊论文] 作者：杨海涛,胡广勇,王永兰,王希哲,王超群,
来源：金属学报 年份：2002
介绍了MiVnt显微图像分析软件配合CCD数字图像采集系统在BT20热轧厚板组织细节分析中的具体应用,在短时间内给出了BT20中的等轴初生α相单个晶粒的长短轴之比等几何参数和形...
[期刊论文] 作者：王超群,王宁,刑政良,吕光烈,胡广勇,
来源：有色金属 年份：2001
β－Ni（OH）2的X射线衍射谱的基本特征是衍射线的选择宽化，它与晶粒内部的微结构特性如微晶尺寸参数和层错缺陷结构等有关。通过镍电极材料的全谱X射线分析区分这些微结构特性、测......
[期刊论文] 作者：商顺利,沈剑韵,胡广勇,王超群,王希哲,
来源：稀有金属 年份：2000
利用谐分析法所计算的全极图 ,结合X射线衍射所测不全极图数据 ,用极图法计算了轧制钛合金板材的相比例。极图法能校正织构对钛合金定量相分析的干扰。The total polar dia...
[期刊论文] 作者：胡广勇,左良,武保林,王刚,梁志德,
来源：金属学报 年份：1998
采用沉积-扩散法，将同步冷轧和异步冷轧的Fe-3％Si薄板渗成Si含量接近6．5％的高硅钢薄板.利用X射线衍射技术测定了渗Si样品的结构和Si含量，分析了不同工艺阶段作品的织构特征。研究......
[期刊论文] 作者：胡广勇,武保林,王刚,王轶农,左良,C.Esling,
来源：东北大学学报 年份：1999
在分析 Ｃ Ｖ Ｄ 法渗 Ｓｉ 制备 Ｆｅ６５ ％ Ｓｉ 合金薄板的实际工艺要求基础上，择定了母材的 Ｓｉ含量、扩散温度及气氛浓度·利用计算机模拟研究了在所确定条件下对一定厚度样品实施单步扩散和两......
[期刊论文] 作者：武保林,胡广勇,王沿东,左良,梁志德,
来源：金属学报 年份：1999
分别对不同初始晶粒尺寸的冷轧及冷轧后经回复的纯 Ｃｕ进行了激光超快速加热再结晶处理发现细晶冷轧样品完全再结晶时其织构由立方与冷轧织构组分构成，而粗品样品为单一的立方织......
[期刊论文] 作者：武保林,王轶农,胡广勇,左良,梁志德,
来源：中国有色金属学报 年份：1999
加热速度对冷变形金属的再结晶织构具有很大影响。利用激光超快速加热方法对冷轧Ｃｕ３０ ％ Ｚｎ 合金进行了再结晶处理。实验结果表明， 其织构转变过程与普通加热时差别很大。对于冷轧７０ ％......
[期刊论文] 作者：王超群,王宁,庄卫东,沈剑韵,商顺利,胡广勇,
来源：稀有金属 年份：2000
采用X射线衍射分析技术 ,探讨了六方晶系合金板材弹性模量的计算方法。经不同退火工艺 (850～1 0 50℃ )的合金板材 ,其织构由 { 1 1 2 0 } (1 0 1 0 )转向 { 1 0 1 0 } (0 0 0...
[期刊论文] 作者：黎建明,屠海令,胡广勇,王超群,郑安生,钱嘉裕,
来源：半导体学报 年份：2002
采用 X射线三轴晶衍射法 ,根据 As间隙原子对作为过量 As在 Ga As单晶材料中存在的主要形式的模型 ,可以无损、高精度测量半绝缘 Ga As单晶的化学配比 .并探讨了引起晶格变化...
[期刊论文] 作者：杨坚,宫声凯,舒勇华,刘慧舟,胡广勇,王晓华,
来源：低温物理学报 年份：2002
用轧制及再结晶方法制备了高度立方织构的金属Ni(镍)基带.采用电子束蒸发的方法在几个厘米长的Ni基带表面上生长YSZ(钇稳定二氧化锆)阻挡层.X射线衍射分析表明,YSZ层具有纯c...
[期刊论文] 作者：孙建伦,王轶农,王刚,刘沿东,胡广勇,梁志德,
来源：物理测试 年份：1999
按照Voigt近似函数法原理,反思并重构了确定晶块尺寸和微畸变的测算程序。程序发挥了衍射仪—计算机联机之长,数据处理过程准确、可靠。用本文程序对镀铁样品进行了实测,测算...
[期刊论文] 作者：孙丽虹,刘安生,邵贝羚,胡广勇,张希顺,吴志斌,
来源：现代科学仪器 年份：2001
电子背散射衍射装置是获取材料的亚微米的范畴晶体学信息扫描电镜附件 ,此装置可在观察材料的形貌及分析成分的同时研究材料的取向关系。本文介绍了电子背散射衍射接收系统 ,...
[期刊论文] 作者：史锴,杨坚,刘慧舟,胡广勇,舒勇华,王晓华,袁冠森,
来源：稀有金属 年份：2002
系统研究了Cu Ni合金基带和纯Ni基带的织构形成及转变规律 ,重复地获得了稳定的再结晶 { 0 0 1}立方织构。用表面氧化外延 (SOE)法生成了NiO(2 0 0 )薄膜。轧制总加工率、轧...
[期刊论文] 作者：张希顺,刘安生,邵贝羚,孙丽虹,孙继光,胡广勇,陈朝庆,
来源：电子显微学报 年份：2001
电子背散射衍射装置是获取材料的亚微米的范畴晶体学信息扫描电镜附件,此装置可在观察材料的形貌及分析成分的同时研究材料的取向关系.本文介绍了两种不同档次的电子背散射衍...
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