现代通信系统、网络传输系统、计算机多媒体系统中数字系统的设计得到了跨越式发展。模拟和数字之间接口电路的速度与精度成为数字系统未来蓬勃发展的关键和瓶颈。其相应地高精度ADC的性能测试技术和功能验证方案的要求也愈来愈高，已逐步升级为一道需要解决的重要技术障碍，阻挡我国信息技术的革新。论文首先简要地对斜坡电压测试法和柱形图测试法进行了叙述，全面性的分析了动态测试原理及技术，描述了ADC的数据传输架构。对ΣΔADC的基本原理、性能指标、测试端口和芯片封装作了概况，较为详细阐述了常用测试参数的定义。随后研究了测试方案，在测量高精度ADC时域上的采样信号时，受高精度ADC中时钟抖动效应和数字电路系统中的信号源以及其自身频率精度的干扰，相应的离散傅立叶变换应用方法和高稳定、低噪声电压源的设计是非常必要的。此外还讨论了窗函数处理技术中不同窗函数对于频谱泄漏问题的不同处理效果及解决办法。最后，采用高精度信号源来搭建性能测试平台和功能验证系统。在同一时钟下，以FPGA为核心灵活地构建软、硬件测试平台，完成各部分的系统调试和数据处理，且分别对设计要求的静态参数、动态参数指标进行测量和分析，并对比了与之相应地仿真结果。本方案的测试验证系统与研究方案，经实际结果表明，符合高精度ADC的关键指标测试和功能特性验证，其测试方法地灵活性、完整性、可编程性和通用性较好。所测得的高精度ADC芯片，经测试表明，可应用于现代信息通讯系统中，奠定了其未来大规模的应用基础。