二极管一直对电子工业的发展产生着重要的助推作用,同时二极管的特性参数检测技术则一直在被探索中。其中,电流-电压(I-V)法是一种经典的检测方法,被用来检测二极管的反向饱和电流、串联电阻、理想因子、势垒高度、发射系数等参数。I-V法基于高精度的I-V特性曲线进行测量,由于模型简化、分析方便使其应用非常广泛。实现I-V特性曲线的高精度测量以及结参数的自动获取是目前I-V法所面临的困难。本文从参数、原理及测试方法上对二极管作了详细的研究说明,并介绍了一个以ATmega16单片机为核心部件,可实现二极管I-V特性测量和结参数显示的系统。该系统专门针对二极管小批量生产厂家设计,操作简单、成本低、可靠性高。系统通过给二极管及其串联电阻提供高精度的电压源,使用模数转换器分别测量二者的电压,根据欧姆定理计算出二极管的电流,以此获取二极管的I-V特性点数据,并利用MATLAB的图形用户界面(GUI)将特性曲线及相关参数显示在计算机中。通过按键设计,系统还实现了手动测量和自动测量方式的切换。本文还提出了自适应双倍阈值RANSAC法(DRANSAC),提高了弱电流情况下的噪声滤除效果,并实现了结参数的自动获取。