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本文围绕嵌入式系统总线接口设计论述了如下设计工作：
1.结合实际工作，探讨了几种典型总线接口的设计，既包括PCB板上芯片之间互联的常用总线如SPI(Serialperipheralinterface)和I2C(InterICBus)等，也包括最常见的系统局部总线-PCI总线(PeripheralComponentInterconnect，外围部件互连)，以及存储接口-SDRAM的存取接口。
2.鉴于现代数字系统对可靠性设计的高度要求，，探讨了若干提高电路可测试性的可行途径，包括扫描电路设计，以及结合了异或门，Reddycircuits和Dual-modecircuits等改进结构的扫描电路设计。结合D算法，这些设计能够保证系统具备高可测试性。
3.探讨了在SOC(SystemOnChip)时代越来越受到重视的BIST(BuildInSelfTest)电路结构。并应用伽罗华域的有关理论，结合线性反馈移位寄存器的工作原理，提出了一种可用于实际电路的新型BIST测试结构。该测试结构，不但测试速度快，而且能够最大限度的利用系统资源，使得电路的改动能够保持在最小程度。