存储器作为集成电路中的重要组成部分,一直是电路设计者研究的重要对象。而随着集成电路的发展以及各种各样的新型技术的不断完善,对存储器发展的要求也迅速提高,因此对于新型存储器的研究也愈来愈迫切。在社会需求的推动下各种新型存储器也运营而生,比如铁电存储器,磁阻存储器,阻变存储器等。在国外,这些存储器的发展已经相对成熟,然而在国内的研究还在不断的提升当中。铁电存储器作为存储器中的新宠,自然而然的也成为重要的研究对象。铁电存储器的性能主要体现在读写速度快,使用寿命长。铁电存储器的数据读取时间是指从地址信号有效输入开始到数据有效输出为止所消耗的总时间。而提高铁电存储器的读取速度最有效的办法就是改善灵敏放大器的设计以便提高信号的放大效率。铁电存储器的使用寿命主要由铁电材料决定,不过铁电材料在大量反复使用后会出现疲劳,导致铁电特性减弱,这会影响到铁电存储器的使用寿命,这主要体现在被灵敏放大器识别的窗口电压变小。因此对于铁电存储器性能提升的关键因素为灵敏放大器性能,故而对铁电存储器灵敏放大器的研究具有重要的意义。基于此研究意义,本文着重分析了铁电存储器灵敏放大器设计需考虑的关键因素,并提出一种有效的灵敏放大器设计。利用锁存型灵敏放大器作为基础放大器的前提下,通过增加一级交叉耦合的上拉晶体管来实现预放大功能。在预放大作用下,位线上的微小电压差可以放大到接近二分之一电源电压差值大小。这样可以有效的避免灵敏放大器失配带来的负面影响,以及提高铁电存储器的使用寿命。由于增加了一级放大过程,因此在一定程度上增加了放大延时。不过通过牺牲放大的时间消耗可以换取放大过程的正确性以及增加了铁电存储器的使用寿命。在此基础上还提出了一种可以节约灵敏放大器资源的铁电阵列架构。论文所设计的灵敏放大器采用华虹宏力0.13μm工艺,仿真工具以CadenceIC616的hspiceD仿真器为主。仿真模拟了铁电存储单元疲劳导致的位线电压差减小以及灵敏放大器器件失配引起的失调电压。通过仿真得出本文设计的灵敏放大器能有效的避免失调电压带来的负面影响以及推迟铁电存储单元疲劳导致位线台阶差减小而无法正确放大到来的时间。一定程度上增加了灵敏放大器的良率以及铁电存储器的使用寿命。