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4H-SiC衬底AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管的研制
4H-SiC衬底AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管的研制
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:Mr_Law
【摘 要】
:
报道了在4H-SiC衬底上AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的研制和室温特性测试结果.器件采用栅长为0.7μm,夹断电压为-3.2V,获得了最高跨导为202mS/mm,最大漏源饱和电流密度为915mA
【作 者】
:
郝跃
杨燕
张进城
王平
【机 构】
:
西安电子科技大学微电子研究所
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
2004年12期
【关键词】
:
4H-SIC
ALGAN/GAN
高电子迁移率晶体管
H-SiC
AlGaN/GaN
high-electron-mobility transistors
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报道了在4H-SiC衬底上AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的研制和室温特性测试结果.器件采用栅长为0.7μm,夹断电压为-3.2V,获得了最高跨导为202mS/mm,最大漏源饱和电流密度为915mA/mm的优良性能和结果。
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