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利用光致瞬态电流谱(Optical Transient CurrentSpectrumOTCS)研究了热退火对低温分子束外延GaAs材料深中心的影响,实验结果表明原生和退火的LT-GaAs中都存在三个主要的深中心LT1、LT2、LT2,退火后各峰的相对强度变化很大,特另ILT1/ILT3=C由退火前的C〉〉1到退火后C〈〈1,退火温度越高,C值越小,这主要归因于热退火过程中砷的集聚与沉淀致使与砷反