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旁栅阈值电压与旁栅距的关系研究
旁栅阈值电压与旁栅距的关系研究
来源 :固体电子学研究与进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wj0987654321
【摘 要】
:
旁栅效应是制约GaAs器件及电路性能的有害寄生效应.文中理论推导并实验研究了旁栅阈值电压VthSG与旁栅距LSG的关系,发现VthSG与LSG成正比关系.这一结论对数字电路设计具有重
【作 者】
:
丁勇
毛友德
夏冠群
赵建龙
【机 构】
:
合肥工业大学,中科院上海冶金所
【出 处】
:
固体电子学研究与进展
【发表日期】
:
2001年3期
【关键词】
:
旁栅阈值电压
旁栅效应
旁栅距
碰撞电离
MESFET
sidegating effect thedistance of side-gate/MESFET im
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旁栅效应是制约GaAs器件及电路性能的有害寄生效应.文中理论推导并实验研究了旁栅阈值电压VthSG与旁栅距LSG的关系,发现VthSG与LSG成正比关系.这一结论对数字电路设计具有重要指导意义,在设计电路版图时可根据电路的逻辑电平摆幅VSW选择器件之间的最小距离L.
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