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基于关键面积的冗余集成电路成品率分析
基于关键面积的冗余集成电路成品率分析
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:qq38559322
【摘 要】
:
利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率,并给出了其计算模型.实例模拟表明,与传统的成品率分析方法相比,该模型预测比成品率具有更高的精度.
【作 者】
:
赵天绪
段旭朝
马佩军
郝跃
【机 构】
:
西安电子科技大学微电子所,宝鸡文理学院计算与信息研究所
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
2003年5期
【关键词】
:
关键面积
冗余集成电路
成品率
故障
缺陷
critical area
fault
yield
defect
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利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率,并给出了其计算模型.实例模拟表明,与传统的成品率分析方法相比,该模型预测比成品率具有更高的精度.
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