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通过对裂纹模拟缺陷试件的数字透射成像检测试验，分析并研究了面阵探测器成像检测系统、透照参数、检测工艺与检测图像质量的关系，并给出了检测过程中应该注意的问题。具体试验表明：面阵探测器X射线数字成像系统在一定厚度范围内的检测效果（主要是图像的单丝像质计指数）优于同厚度的射线照相B级要求。
TFT面阵探测器X射线数字透射成像
【摘 要】
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通过对裂纹模拟缺陷试件的数字透射成像检测试验，分析并研究了面阵探测器成像检测系统、透照参数、检测工艺与检测图像质量的关系，并给出了检测过程中应该注意的问题。具体试验
【机 构】
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中国航空综合技术研究所,北京航空航天大学
【出 处】
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无损检测
【发表日期】
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2011年5期
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