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本文研究了对ZnO薄膜的光致发光、晶体缺陷、晶粒尺寸和表面形貌的影响.采用PL测试表征材料的缺陷密度,用HR-XRD表征薄膜的结晶情况,用SEM表征ZnO薄膜材料的表面形貌.结果表明经3%浓度的H2O2处理10s的ZnO薄膜缺陷显著降低,结晶情况有所改善,晶粒尺寸增大.利用H2O2处理可以降低ZnO薄膜的缺陷态,提高了其在应用中的电学稳定性.