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随着集成电路设计规模的不断增大.在芯片中特别是在系统芯片SOC(system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要.文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理,并给出了存储器内建自测试的一种典型实现.
嵌入式存储器内建自测试的原理及实现
【摘 要】
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随着集成电路设计规模的不断增大.在芯片中特别是在系统芯片SOC(system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要.文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实
【机 构】
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浙江大学超大规模集成电路设计研究所
【出 处】
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固体电子学研究与进展
【发表日期】
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2004年2期
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