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用输出功率为50W的CW CO_2激光照射纯硅烷(SiH_4)气体得到了a-Si:H薄膜。沉积速率达到200 /min。用电子衍射方法测定了所沉积的薄......
室温下光电导的衰减是个复杂过程,首先是迅速衰减的光电导(P.C)过程,随后则是缓慢衰减的持续光电导(P.P.C)过程。本文给出室温下持......
介绍了用 ECR-MP-CVD 方法在室温条件下,淀积α-Si:H 膜的光学性能,其光能隙 Eg 随工艺条件改变而不同,Eg 值在1.72~1.92eV 之间。......
采用RF-PECVD系统在SOI材料上制作α-Si:H TFT,纳米非晶硅薄膜厚度为98nm,沟道长宽比为10μm/40μm。用扫描电子显微镜、X射线衍射......
本文制备了六种不同结构的 α-Si:H 多层膜结构,对其切面进行了扫描电镜观察分析.结果表明:辉光法生长 α-Si:H 膜过程中存在沉积......
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本文研究了PECVD系统沉积薄膜及其特性.通过椭偏仪测出了薄膜的膜厚,采用电子薄膜应力分布测试仪分析了薄膜应力,并运用四探针装置......