基于扫描设计相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

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考虑测试功耗的扫描链划分新方法

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基于扫描设计扫描链测试功耗兼容扫描单元 scan based design scan chain test power oompatible sca

面向系统芯片的可测性设计

随着集成电路的规模不断增大,芯片的可测性设计正变得越来越重要.回顾了一些常用的可测性设计技术,分别讨论了系统芯片(SOC)设计中......

期刊

可测性设计系统芯片基于扫描设计内建自测试边缘扫描

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