ESD损伤相关论文
在传统的基于设计电路的ESD(Electro-Static Discharge)损伤仿真中,通常不考虑版图物理结构的影响,其仿真结果往往与实际损伤情况......
本文以1.2u双层铝CMOS大规模集成电路中最常用的一种输入保护形式为例、对LDD（轻掺杂漏），MDD（中等掺杂漏）和DDD（双扩散漏）器件结构及抗静......
文章针对LDD-CMOS器件的ESD以及相关机理进行了深入的研究.对ESD潜在损伤的机理、特性以及与其它失效机理的关系进行了分析和讨论.......
本研究以常用的运算放大器之一LM741为例进行了高ESD应力条件下的运算放大器的失效研究,研究通过物理观察和电学测试的手段考察了L......
