IC晶片相关论文
在高精密度的IC晶片图像检测分析中,图像的实时采集和自动调焦是保证显微成像系统获得清晰图像的关键技术.文中提出了一种基于嵌入......
IC晶片图像检测包括特征尺寸测量、缺陷检测(DI)以及目检(VI),依靠人眼加放大镜的检测方式受到很大挑战且存在很多不足之处,已经不......
本文来源于广东省2004年科技计划项目“基于数字图像处理的IC晶片显微自动检测系统”（2004A10403008），项目采用数字图像处理技术对IC......
针对IC晶片导线特征检测中的难点,介绍一种基于图像处理技术的导线特征分析和缺陷检测方法，把由局部缺陷引起的线路短路、开路故障......
IC晶片制造过程存在多种致命缺陷,致使芯片失效,导致成品率下降。冗余物缺陷是影响IC晶片成品率下降的重要原因,主要造成电路短路......
光刻工艺导致的IC晶片制造中缺陷种类多样，丢失物和冗余物缺陷是影响成品率下降的重要原因，其主要造成电路开路和短路。提出一种基于......
针对具有重复图案阵列的IC晶片结构特征,提出了一种基于旋转不变子空间技术(ESPRIT)算法的自比较模板匹配缺陷检测方法。应用ESPRI......
IC晶片AOI(Automated Optical Inspection,自动光学检测)系统的研究,需要嵌入式技术、光学技术、数字图像处理、机器视觉技术等多......
随着ULSI/VLSI集成电路要求的特征图形尺寸越来越小,缺陷密度越来越低,IC制造中的各种缺陷发生的愈加频繁,而目前集成电路生产工艺......
嵌入式IC晶片视觉检测技术的研究以广东省2004年度科技计划项目“基于数字图像处理的IC晶片显微自动检测系统”(2004A10403008)为......
