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随着集成电路制造工艺的不断进步以及芯片规模的不断增加，测试策略面临新的挑战，本文提出矢量压缩后复用系统总线的测试方案是一种测......
由于科学技术的快速提高，单一芯片中所包含的晶体管的数目越来越多，相对造成了芯片可测试度的降低．以及测试成本的增加。传统的基于扫......
由于科学技术的快速提高，单一芯片中所能包含的晶体管的数目越来越多，相对造成了芯片可测试度的降低，以及测试成本的增加。传统的STUM......
在内建自测试中，针对随机向量测试，本文提出了一种通过输出信号分组压缩来减少多输入特征寄存器MISR的硬件开销的方法。该方法是在分......
为了改善所研制的运动视觉系统芯片(SOC)中乘法器IP的可测性,采用基于内建自测试的方法,在外围增加改进的线性反馈移位寄存器和多......
