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摘要：针对现有的测试响应压缩方法在未知位处理能力、混淆能力、诊断能力和压缩能力方面只侧重于单一能力的问题，首次将LDPC编码技术......
针对内建自测试技术难以检测到抗随机测试故障的缺陷，提出一种充分利用测试向量中的无关位增加测试向量分组长度的方法。由含无关位......
测试压缩在保障测试质量前提下，能有效地减少数字集成电路的测试数据量和测试时间。它作为弥补测试能力提升速度和摩尔定律之间的差......
随着制造工艺的进步,集成电路的复杂度随之快速增加,导致对集成电路的测试变得愈发困难。目前,得到公认的能够解决测试问题的一种......
