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为了减少测试数据量，提出一种利用数据中大量无关位的特殊相关性进行编码压缩的方法，压缩步骤分两步，先选定参考数据，然后利用相关性将......
随着超大规模集成电路制造技术的快速发展,单个芯片上已能够集成的晶体管数目越来越多.由于各种知识产权芯核集成到一个芯片上,这......
为了减少集成电路测试数据量，本文提出一种基于参考切片相容的广播式编码压缩方法。以使用两个扫描切片作为参考切片为例介绍了对该......
随着VLSI技术的不断发展,集成电路所需的测试数据量也在不断增加,给测试带来了一系列问题,对自动测试设备（ATE）的存储容量提出了挑战......
针对内建自测试技术难以检测到抗随机测试故障的缺陷，提出一种充分利用测试向量中的无关位增加测试向量分组长度的方法。由含无关位......
通过改进IFDR码,提出一种基于游程相等编码的改进FDR（ERFDR）方法.首先,该方法不仅能同时对原测试集的0游程和1游程进行编码,而且,当......
集成电路行业在21世纪是属于SoC的。在半导体工业进入65nm和更小的技术以来，特征尺寸不断减小。系统级芯片SoC（System on a Chip）是集......
随着制造工艺的进步,集成电路的复杂度随之快速增加,导致对集成电路的测试变得愈发困难。目前,得到公认的能够解决测试问题的一种......
近年来,集成电路技术日新月异。人们要求电路既要有强大的功能,又要有较高的可靠性。由于电路密度快速增加,而外部管脚数目因受几......
集成电路在测试过程中的测试功耗通常会远远高于集成电路正常工作时的功耗,而过高的测试功耗可能会造成电路损坏或是芯片烧毁。为......
