标准样片相关论文
依据穆勒椭偏测量方法中偏振光的传输方式,文中提出了一种基于自适应差分进化算法(SADE)的各向同性纳米薄膜厚度与光学常数的表征......
本文主要介绍由英国Radiometric公司引进的RM312板凸度度仪的控制系统主要组成及其功能、厚度轮廓测量原理和标定方法.以期对轧钢......
本文旨在研究微电子标准样片制备过程和方法,制备出适合集成电路参数量值传递的标准样片,完善微电子量值溯源体系。......
微波铁磁材料是应用广泛的新型材料,其主要参数是共振参数。目前已有多款商用共振参数测试仪在使用,但量值溯源仍未解决,也少有研......
依据穆勒椭偏测量方法中偏振光的传输方式,提出了一种椭偏系统中光学元件参数的定标方法.通过建立出射光强关于起偏器和检偏器透光......
本文论述了应用微电子标准样片建立集成电路测试系统计量检定装置，实现集成电路测试系统微电子量值的溯源、健全微电子量值传递体系......
本文突破传统的标准物质制备理念,把微电子数字电路的标准样片制备,从自制蕊片改成从成品中选取,大大降低了制备难度,使步履艰难的......
提出了一种利用椭圆偏振测量进行纳米薄膜参数数据处理的混合优化算法。以人工神经网络模型为基础,利用改进粒子群算法选择人工神......
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径，论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟，并对标准样片测量不确定度评......
目前在电子材料生产研制单位中,波导传输线法是使用最为普遍的一种电介质材料的介电性能测试方法,但相关的测量系统仍缺乏整体校准......
通过对中国计量科学研究院(NIM)与美国国家标准局(NBS)研制的硅单晶电阻率标准样片的比较实验研究,获得了标志着标准样片主要性能......
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,而基于标准样片的集成电路测试系统校准装置使得标准样片的量值可以准确可靠地传......
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟,并对标准样片测量不确定度......
针对ITO薄膜方块电阻测试方法,文章探讨了常规的四探针法与双电测四探针法在实际生产中的适应性、准确性。根据玻璃基板上的ITO薄......
文章着重于研究标准样品制备中的测量数据分析技术。通过对标准样片各参数的测量数据进行分析考核处理,从而保证标准样片的重复性......
