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直流电流电压相关论文

纳米CMOS器件的新测量方法并用于可靠性的研究

CMOS器件尺寸越来越小，栅介质厚度持续减小，负偏压温度不稳定性（NBTI）成为制约器件可靠性及寿命的最主要因素之一。然而，NBTI机理一直处......

学位

CMOS pMOSFETs 负偏压温度不稳定性可靠性恢复电荷泵直流电流电压反应-扩散模型界面陷阱氧化层电荷实时界面陷阱测量快速脉冲I_d-V_

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