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等温凝固扩散相关论文
TSV立体集成用Cu/Sn键合工艺
为实现硅通孔(TSV)立体集成多层芯片可靠堆叠,对一种具备低温键合且不可逆特点的Cu/Sn等温凝固键合技术进行了研究。基于Cu/Sn系二......
期刊
Cu/Sn体系
低温键合
等温凝固扩散
硅通孔(TSV)
三维集成
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