静电损伤相关论文
本文对集成电路静电损伤(人体模型)和过电应力损伤进行了研究,从I-V特性测试、带钝化层芯片表面扫描电镜观察及芯片表面剥层后的扫......
本文在考虑我国电子工业布局飞速进步和我国半导体产业制造技术不断提升的背景下,越来越多的企业和技术人员在电子产品生产和使用......
本文通过静电作用前后电阻变化规律、Ⅰ-Ⅴ特性曲线、发火电压及临界爆发电流等手段分析了半导体桥火工品的静电作用特性。利用电......
【摘 要】一般而言，薄栅氧MOS器件、场效应器件和浅结、细条、细间距的双极器件的抗静电放电能力更弱。在微电子器件及电子产品的生......
本文在研究集成电路封装线过程中静电产生的各种原因及静电损伤的机理后，为集成电路的系统性静电防护制定了相关措施。对于集成电路......
本文介绍了对AS169型微波开关电路进行的失效分析.采用了直流测试、射频测试、样品解剖、芯片观察、电路分析以及实验验证等一系列......
利用偏光显微镜、扫描电镜（SEM）和原子力显微镜（AFM）对聚酰亚胺（PI）表面正常区域和静电损伤区域进行系统观测。偏光显微镜的观测基于超扭......
文章具体地总结静电防护知识、静电防护工作、防静电的步骤。生产实际表明进行静电防护可避免增加成本,提高产品合格率,可避免客户......
随着现代科学技术的发展,电子、通讯等高新技术产业也在迅速崛起,电子仪器和电子设备正在朝着小型化、智能化、多功能化方面发展,......
本文提出了轻微静电损伤和严重静电损伤的概念,简述了静电放电模型,指出了提高器件抗静电放电能力的对策。......
6 ESD防护的必要性静电在电子工业中被称为'看不见的敌人,无处不在的杀手'.静电损伤是一种偶然事件,与时间无关,同时由于E......
集成电路(Integrated Circuit,通常简称IC),是指将很多微电子器件集成在芯片上的一种高级微电子器件。本文通过分析集成电路失效模......
在不同的静电放电模型下，通过实验研究了几种典型的半导体器件的静电敏感端对的静电放电情况和灵敏参数，由于外部环境、材料、结构和......
控制器使用红外接收头在实际应用中出现失效,故障现象表现为接收距离短,不接收等。经分析主要为器件制造、过电、设计等多方面原因......
半导体器件制造过程中的静电防护是十分重要的。文章从静电放电的模式出发,结合封装制造过程实际情况,列举了静电防护的各种措施。......
延迟失效是CMOS器件静电损伤中90%的现象,大大地影响了机器使用过程中的准确程度,因此对CMOS器件采取防静电措施的实施是十分重要......
论述了白光发光二极管(LED)在封装和应用中存在的主要模式和失效机理,并介绍了若干失效分析实例,提出了可靠性保证措施,对于进一步......
微波等离子清洗技术具有优越的环境特性和去污能力，但传统产生等离子体的不足限制了等离子清洗技术在工业中的应用，近期等离子领域的......
微波等离子清洗作为一种绿色无污染的高精密干法清洗方式,可以有效去除表面污染物,避免静电损伤。简述了微波等离子清洗的原理及特......
文中分析了静电产生的原因、电路静电损伤机理及失效机制。制定了集成电路封装线系统性静电防护措施。其涉及到封装厂房环境静电防......
由于CMOS器件静电损伤90%是延迟失效,对整机应用的可靠性影响太大,因而有必要对CMOS器件进行抗静电措施。本文描述了CMOS器件受静......
绝大多数半导体器件都是静电敏感器件,而在生产过程中静电又是无处不在的,生产厂必须对静电防护措施给予充分的重视。生产厂应通过......
通过调研国内外静电防护标准发展现状,以及分析目前宇航电子产品静电防护相关标准的工程实践效果,对宇航电子产品静电防护中的设计......
