InP衬底AlAs/In0.53Ga0.47As RTD的研制

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:pengwei000
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报道了InP衬底AlAs/In0.53Ga0.47As/AlAs两垒一阱结构共振隧穿二极管(RTD)器件的研制.结构材料由分子束外延制备,衬底片为(001)半绝缘InP单晶片,器件制作选用台面结构.测得室温下的峰值电流密度为1.06×10^5A/cm^2,峰.谷电流比为7.4,是国内报道的首例InP材料体系RTD器件.
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