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[期刊论文] 作者：贾亚斌,,
来源：科技创业月刊 年份：2018
现代企业经济管理工作与计算机技术应用存在着密不可分的联系,通过将先进计算机技术合理应用在企业经济管理各项内容中,能够最大程度提高企业内部经济管理工作质量和效率,因...
[期刊论文] 作者：贾亚斌,,
来源：广东农业科学 年份：2014
研究再生水灌溉条件下氮素在土壤中的转移规律,对于最大限度地利用再生水、减少水体污染具有重要意义。研究表明,土壤中氮素的含量随再生水中氮素含量和灌溉量的增加而升高,...
[学位论文] 作者：贾亚斌,
来源：太原理工大学 年份：2016
随着半导体器件需求不断提高,薄膜制备工艺逐步成熟,科研工作者的研究方向也逐步由常规厚度HfO2薄膜的性能改善转变为10 nm以下的超薄膜的性能研究。而对HfO2超薄膜的物理表...
[学位论文] 作者：贾亚斌,,
来源：大连理工大学 年份：2020
阴离子交换膜燃料电池(AEMFC)由于具有成本低廉,能量转换效率高和更快的电极反应动力学等优势而得到广泛研究。阴离子交换膜(AEM)是AEMFC的关键成分,但AEM的氢氧化物电导率低...
[期刊论文] 作者：贾亚斌,王向荣,
来源：法治与社会 年份：2010
为了进一步提高代表的履职能力，充分发挥代表作用，近日，陈仓区人大常委会召开了区一届人大代表履职培训会。会议邀请宝鸡市人大常委会人事代表工作委员会副主任裴振强作了人民代......
[期刊论文] 作者：高慧芳,任玲玲,贾亚斌,,
来源：计量技术 年份：2015
掠入射X射线反射法是一种薄膜厚度的无损测量方法。采用掠入射X射线反射法测量纳米尺度氮化硅薄膜厚度，拟合模型的建立和测量条件的选择是测量结果准确性的重要影响因素。研究......
[期刊论文] 作者：许春香,张志玮,鞠辉,贾亚斌,,
来源：铸造 年份：2012
采用OM、XRD、SEM、EDS和高温拉伸试验机研究了不同Ho含量对ZA52合金的微观组织与力学性能的影响。结果表明,加入Ho能够细化基体组织,使Mg32（Al,Zn）49相由半连续网状结构转变为...
[期刊论文] 作者：郭莉莉,贾亚斌,易宏,孔凡友,秦林,,
来源：稀有金属材料与工程 年份：2017
采用等离子合金化技术在Ti-5Zr-3Sn-5Mo-15Nb(TLM)表面制备含钼改性层,对改性层组织、成分分布和显微硬度进行分析,并测量去离子水在渗钼试样表面的接触角,同时研究在模拟人...
[期刊论文] 作者：贾亚斌,任玲玲,高慧芳,陶兴付,秦林,,
来源：计量技术 年份：2016
椭圆偏振仪(或简称椭偏仪)在薄膜研究领域应用广泛.文章主要研究了相调制型光谱椭偏仪光路准直及参数优化过程,并通过硅上二氧化硅膜厚标准样品测量及数据拟合处理对光谱椭圆...
[期刊论文] 作者：贾亚斌,邓世岐,刘世雄,程龙,张博,许春香,,
来源：铸造设备与工艺 年份：2012
采用OM、XRD、SEM、EDS和高温拉伸试验机研究了不同Ho含量对AZ61合金的微观组织与力学性能的影响。结果表明,加入Ho能够细化基体组织,使β-Mg17Al12相由连续的网状变为断续的...
[会议论文] 作者：任玲玲,高慧芳,贾亚斌,李旭,陶兴付,秦林,
来源：全国计量测试技术学术交流会 年份：2016
掠入射X射线反射技术是纳米单层或多层膜结构表征的重要方法之一,该方法可获得纳米尺度单层或多层薄膜厚度、表面和界面平均粗糙度以及密度等相关参数.本文采用该方法测量10nm-100nm膜厚的Si/SiO2薄膜厚度、内部不同层界面粗糙度及密度,并与高分辨透射电镜方法......
[期刊论文] 作者：刘成松,秦林,李翠玲,尹研,贾亚斌,郭丽丽,,
来源：表面技术 年份：2014
目的提高304不锈钢表面耐磨性能。方法利用双辉等离子合金化技术,使304不锈钢表面形成Mo合金化渗层。分析渗层的成分分布和相结构,对比基体材料和Mo合金化改性层的硬度、磨痕...
[期刊论文] 作者：张寅辉,任玲玲,高慧芳,贾亚斌,Fu Weien,刘小萍,
来源：计量学报 年份：2017
为了建立厚度为1 nm左右HfO2超薄膜的光谱椭偏测量方法,采用掠入射X射线反射技术进行国家/地区实验室间比对认证,其膜厚准确量值作为参比值,建立了HfO2超薄膜的光谱椭偏结构拟合模型。研究了HfO2超薄膜的光谱椭偏色散模型和拟合参数,最后确定了拟合色散模型为Ta......
[期刊论文] 作者：尹研,李翠玲,刘成松,吴海波,贾亚斌,郭莉莉,秦林,,
来源：表面技术 年份：2015
目的 改善AISI316不锈钢的摩擦磨损性能。方法 采用双辉等离子合金化技术,以块状Fe B化合物作为源极材料,在AISI316不锈钢表面制备含硼改性层,对渗层组织、成分、相结构和显...
[期刊论文] 作者：张寅辉,任玲玲,高慧芳,贾亚斌,Fu Weien,刘小萍,K,
来源：计量学报 年份：2017
为了建立厚度为1nm左右HfO2超薄膜的光谱椭偏测量方法，采用掠入射X射线反射技术进行国家／地区实验室间比对认证，其膜厚准确量值作为参比值，建立了HfO2超薄膜的光谱椭偏结构拟合模......
[期刊论文] 作者：张寅辉,任玲玲,高慧芳,贾亚斌,Fu Weien,刘小萍,K,
来源：计量学报 年份：2017
为了建立厚度为1 nm左右HfO2超薄膜的光谱椭偏测量方法,采用掠入射X射线反射技术进行国家/地区实验室间比对认证,其膜厚准确量值作为参比值,建立了HfO2超薄膜的光谱椭偏结构...
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