InAs/GaSb二类超晶格红外探测材料与器件

来源 :第十七届全国化合物半导体材料微波器件和光电器件学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lfw_1988
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  已经生长出质量极高的二类超晶格红外探测材料,并研制成功中波、长波、甚长波及窄带双色红外探测器器件。X射线双晶衍射表明中波、长波及甚长波p-i-n型器件结构的X射线双晶衍射卫星峰半宽分别为20、17和21弧秒。中波器件在77K温度下的50%截止波长为4.8微米,相应最大值4.2微米处探测率为2.4×1011 cm.H205/W;长波器件在77K温度下的50%截止波长为9.6微米,峰值响应率为3.2 A/W;甚长波器件在77K温度下的50%截止波长为14.5微米,Johnson噪声限制的探测率为4.3×109cm·Hz0.5/W。还研制成功通过改变偏压极性实现双色探测的窄带型长波/甚长波InAs/GaSb二类超晶格红外探测器器件,此器件在77K温度下的50%的截止波长分别为10和16微米,两个响应带的光学串扰只有约10%。
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利用低压MOCVD技术在蓝宝石衬底上生长了AlGaN/GaN二维电子气(2DEG)材料,在GaN生长中插入一层低温GaN,并研究了低温GaN插入层对二维电子气输运特性的影响。使用原子力显微镜(AFM)和非接触霍尔测试仪测量了材料的表面形貌和电学特性,发现低温GaN插入层可以改善材料表面平整度并使AlGaN/GaN2DEG的电子迁移率有明显提高,GaN插入层温度为860℃的样品2DEG的电子迁移率达
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