【摘 要】
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信息技术与半导体工艺的日益发展,在提高装备性能的同时也使其自身复杂性不断增加。为保证装备维修性、可靠性、可用性以及战备完好性等指标,故障诊断测试也历经了由简单到先进、由外部到机内的发展阶段,可测性设计也成为装备设计初期需注重的关键环节。基于上述背景,本文对一种通信装备的机内测试技术进行研究与实现,设计了一种面向通信装备故障诊断测试的BIT（Built-In Test）硬件平台。主要研究内容如下:1
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信息技术与半导体工艺的日益发展,在提高装备性能的同时也使其自身复杂性不断增加。为保证装备维修性、可靠性、可用性以及战备完好性等指标,故障诊断测试也历经了由简单到先进、由外部到机内的发展阶段,可测性设计也成为装备设计初期需注重的关键环节。基于上述背景,本文对一种通信装备的机内测试技术进行研究与实现,设计了一种面向通信装备故障诊断测试的BIT（Built-In Test）硬件平台。主要研究内容如下:1.根据GJB2547A-2012中对机内测试的规范要求,以及对通信装备的各模块电路及功能进行分析,建立起通信装备的机内测试系统的基本模型。针对不同模块电气特性以及待测信号的参数区别,对机内测试系统的测试点进行选取,并选择相应的测试参数以及测试方法。2.基于IEEE 1149.5中的模块测试及维护总线（Module Testing and Maintenance bus,MTM bus）,对BIT测试系统架构进行设计,实现主系统与分级测试系统单元之间的广播通信、主系统与上位机的通信以及故障显示等功能。3.针对测试模型中所得的无源测试点的测试需求,设计了射频BIT和中频BIT电路。考虑到BIT的约束条件,对单量程宽频带的无源测试结构进行设计,并验证其可行性。4.针对测试模型中所得的有源测试点需求,基于IEEE 1149.1协议标准,设计了数字BIT分系统,实现了对数字芯片的边界扫描测试功能。最后使用标准信号源模拟通信装备中待测测试点处信号,通过上位机软件下发测试命令,对设计的测试平台性能指标进行模拟测试验证。
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