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期刊论文
100nm分辨率的移相掩模技术
100nm分辨率的移相掩模技术
来源 :微细加工技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:guicailea
【摘 要】
:
介绍了移相掩模技术的基本原理,对几种主要的移相掩模技术进行了比较,指出了各种移相方式的特点和应用局限性,并针对100nm分辨率的技术节点,阐述了各种移相方式在应用中应该
【作 者】
:
陆晶
陈宝钦
刘明
王云翔
龙世兵
李泠
【机 构】
:
中国科学院微电子所纳米加工与新器件集成技术实验室
【出 处】
:
微细加工技术
【发表日期】
:
2003年4期
【关键词】
:
分辨率
移相掩模
二元掩模
光刻
交替式
衰减式
binary mask
phase-shifting mask(PSM)
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介绍了移相掩模技术的基本原理,对几种主要的移相掩模技术进行了比较,指出了各种移相方式的特点和应用局限性,并针对100nm分辨率的技术节点,阐述了各种移相方式在应用中应该解决的问题.
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