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研究了部分扫描触发器的选择 ,对原有的基于状态密度的方法做了一些改进 ,提出一种综合的、基于故障可控性和可观性的扫描触发器选择的方法 ,并分析了扫描触发器对电路时序特性的影响 .在对 ISCAS89标准电路的模拟中 ,该方法对大部分电路可以减少选择的扫描触发器的个数 ,提高测试效率和测试覆盖率