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研究考虑微分算子带一般权第二特征值的上界估计的问题。充分利用试验函数、多次分部积分、Rayleigh定理、Wirtinger不等式和Schwarz不等式等方法与技巧,计算得到了用微分算子带一般权的第一个特征值来估计第二个特征值的上界估计的不等式,其估计系数是比较好的、恰当的,并且是全新的。微分算子带一般权第二特征值的上界估计在物理学和力学中应用非常广泛,并且在微分方程的理论研究中起着重要的作用。